제품 전시
WD 시리즈 저온 시험함 WGD 시리즈 고저온 시험함

|
개요 WD 시리즈 저온 테스트 박스: GB/T2423.1"전기공학전자제품 기본환경시험규정시험A: 저온시험방법"에 따라 진행하는 제품의 저온시험에 적용된다.제품의 저온 저장, 금속의 저온 처리에도 사용할 수 있다. WGD 시리즈 고저온 테스트 박스: GB/T2423.1~2"전기공학전자제품 기본환경시험규정시험A: 저온시험방법에 적용;시험B: 고온시험방법"에서 진행하는 제품의 고저온전환시험, 또는 저온시험, 또는 고온시험.
성능 특징: ●온도제어범위가 넓어 저온시험도 할수 있고 고온시험도 할수 있으며 그중 고저온은 고저온전환시험도 할수 있다.한 대 다용도, 시험상자의 활용도를 높였다. ●고성능의 수입 수치 제어 계기를 채용하여 PID 법칙에 따라 에너지 균형을 제어하여 온도 제어 정밀도를 높이고 시험 온도를 안정시킨다. ●시험상자는 설치된 시험온도에 따라 자동적으로 고온시험이나 저온시험을 선택하여 조작하기에 아주 편리하다. ●시험 온도는 키보드 설정으로 간단하고 쉽게 설정할 수 있습니다.계기 에 편차 수정 기능 이 있어 표준 표 의 판독 수 에 따라 교정 하여 측량 을 향상시킬 수 있다 온도 정밀도. ●시험상자에는 조명등과 투시창이 설치되어 있어 시험 부품의 시험 상태를 관찰할 수 있다. ●전페쇄랭동압축기 (수입) 와 풍응축기를 채용하여 무게가 가볍고 이동이 편리하다.
기술 매개변수
|
저온 상자
|
모델 번호
|
WD602는
|
WD604는
|
WD610은
|
WD802는
|
WD804는
|
WD810은
|
WD1002는
|
WD1004는
|
WD1010은
|
|
용적 m3
|
0.2
|
0.4
|
1.0
|
0.2
|
0.4
|
1.0
|
0.2
|
0.4
|
1.0
|
|
온도 범위
|
-60~+90℃
|
-80~+90℃
|
-100~+90℃
|
|
냉각 시간
|
실온~60 ℃, ≤60분 (공재)
|
실온~80℃, ≤70분 (공재)
|
실온~100℃, ≤100분 (공재)
|
|
높낮이 온상
|
모델 번호
|
WGD402는
|
WGD404는
|
WGD410은
|
WGD602는
|
WGD604는
|
WGD610은
|
WGD802는
|
WGD804는
|
WGD810은
|
|
용적 m3
|
0.2
|
0.4
|
1.0
|
0.2
|
0.4
|
1.0
|
0.2
|
0.4
|
1.0
|
|
온도 범위
|
-40~+150℃
|
-60~+150℃
|
-80~+150℃
|
|
냉각 시간
|
실온~40℃, ≤45min (공재)
|
실온~-60 ℃, ≤60min (공재)
|
실온~-80℃,≤90min (공재)
|
|
온도 지표
|
변동성: ± 0.5 ℃;균일도: ≤ 2 ℃
|
|
온도 제어
|
일본 RKC 디지털 온도 조절기(옵션 레코더)를 사용하여 에너지 균형 온도 조절(BTC)
|
|
냉각 방식
|
전폐쇄 냉동압축기 (수입), 단급 또는 재첩, 응축기는 풍랭
|
|
전원 공급 장치
|
3상 380V 또는 단상 220V 50Hz
|
|
안전장치
|
결상, 합선, 과부하, 초온, 초압 등의 보호 기능을 갖추고 있다
|
|
부품
|
관찰창 크기: 225mm × 320mm 1개;선반: 2개;와이어 구멍: 25 또는 50 1개
|
|
Room 크기
|
0.2m3: 500 (D) × 600 (W) × 680 (H); 0.4m3: 680 (D) × 720 (W) × 820 (H); 1.0m3: 980 (D) × 980 (W) × 1050 (H)
|
|
외형 치수
|
0.2m3:950×1150×1650; 0.4m3:1170×1280×1840; 1.0m3:1460×1500×2050
|
|
기준 충족
|
GB/T2423.1, 2 표준, IEC 표준, MIL 표준 요구 사항 충족
|
위의 기술적 매개 변수는 예고 없이 변경될 수 있습니다.
|