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올인원 Leica EM TXP
관찰 체계와 일체화되어 현미경 아래에서 전체 샘플 처리 과정과 목표 구역을 관찰하여 샘플을 샘플 팔뚝에 고정시키고, 샘플 처리 과정에서 입체 현미경을 통해 샘플을 실시간으로 관찰할 수 있으며, 관찰 각도는 0 ° 에서 60 ° 로 조절할 수 있거나, -30 ° 로 조절
제품 상세 정보
관찰 체계와 하나로 합치다

현미경 아래에서 전체 샘플 처리 과정과 목표 구역을 관찰하여 샘플을 샘플 팔뚝에 고정시키고, 샘플 처리 과정에서 입체 현미경을 통해 샘플을 실시간으로 관찰할 수 있으며, 관찰 각도는 0 ° 에서 60 ° 로 조절할 수 있거나, -30 ° 로 조절할 수 있으면 고글 눈금자를 통해 거리 측정을 할 수 있다.Leica EMTXP는 또한 최적의 시각적 관찰을 위해 밝은 원형 LED 라이트 조명을 제공합니다.
> 작은 대상 영역의 정밀도 및 샘플 제조
> 입체 현미경을 통한 제자리 관찰
> 다기능 기계 처리
> 샘플 처리 프로세스 제어 자동화
> 거울처럼 평평한 광택 효과를 얻을 수 있습니다.
> LED 원형 광원 밝기 조절 가능, 4분할 세그먼트 옵션
미척도 견본을 만들기 위해 태어나다

밀리미터 및 마이크로미터 척도의 작은 목표물을 위치, 절단, 연마, 광택을 내는 것은 다음과 같은 도전적인 작업입니다.
> 목표가 너무 작아 관찰하기가 쉽지 않다
> 정확한 타겟 위치 지정 또는 타겟 각도 조정이 어려움
> 지정된 위치에 광택을 내고 연마하는 데 많은 인력과 시간이 소요됨
> 작은 타겟은 손실되기 쉬움
> 샘플은 크기가 작아 조작하기 어려우며, 종종 상감하여 포장해야 한다
일체화 현미경 관찰 및 영상 시스템

Leica M80 입체 현미경
> 평행광로 설계: 중앙 주물경을 통해 평행광로를 형성하고 초점평면이 일치한다
> 고배율 해상도: 모든 배율 비율에서 우수한 이미지 품질과 안정적인 광원
> 인체공학적 설계: 편안한 편안함, 근육 긴장감 및 피로감 없음
Leica IC80 HD HD 카메라*
> 원활한 설계: 옵티컬 헤드와 양안통 사이에 설치되며 비디오 또는 옵티컬 파이프를 추가할 필요가 없습니다.
> 고품질 이미지: 현미경과 동축 광선로로 이미지 품질을 유지하고 반사 없는 이미지 얻기
> 동적 HD 이미지 제공, 컴퓨터 연결 또는 연결 해제 가능
4 분할 세그먼트 밝기 조절 LED 원형 광원
> 다양한 각도에서 샘플의 미세한 디테일을 보여주는 조명
다양한 방식으로 샘플을 제조 처리하다.

샘플은 이동 없이 도구만 전환
샘플을 이리저리 옮길 필요 없이 단순히 샘플을 처리하는 도구를 교체하면 샘플 처리 과정을 완료할 수 있으며 샘플 처리 전 과정을 현미경을 통해 실시간으로 관찰할 수 있다.안전상의 이유로 공구와 샘플이 있는 작업실에는 투명한 안전 덮개가 있어 샘플 처리 과정에서 조작자가 부주의로 운행 부품에 닿지 않도록 하고 부스러기가 튀는 것을 방지할 수 있다.
LEICA EM TXP는 샘플을 다음과 같이 처리합니다.
> 밀링
> 가공
> 연마
> 광택
> 드릴링
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