절연 열화 및 이온 이동 특성 평가 시스템용도:
전자제품이 갈수록 소형경량 및 고밀도포장에 직면하여 결로흡습 등 요소로 인한 절연불량현상 및 이온이동현상이 날로 두드러지고있으며 절연저항열화 (이온이동) 평가시스템은 고온고습시험상자와 련동하여 고정밀도 련속감측할수 있으며 이온이동현상으로 인한 수명 및 절연저항열화 관련 문제를 능률적이고 간편하게 평가할수 있다.
절연 열화 및 이온 이동 특성 평가 시스템적용 기준:
JPCA-ET04, IPC-TM-650_2.6.3F, IPC-TM-650_2.6.3.1E, IPC-TM-650_2.6.3.4A, IPC-TM-650_2.6.3.6.
절연 열화 및 이온 이동 특성 평가 시스템기술 사양:
|
제품명 |
절연 열화 및 이온 이동 특성 평가 시스템 |
|||||||||||
|
모델 |
SIR13은 |
|||||||||||
|
120V기판 |
250V기판 |
500V기판 |
1000V기판 |
|||||||||
|
기판 시험부 |
저항 범위 테스트 |
320Ω~120TΩ |
320Ω~2.5TΩ |
320Ω~250TΩ |
320Ω~500TΩ |
320Ω~1000TΩ |
||||||
|
테스트 채널 수 |
8CH/기판 |
16개/기판 |
8CH/기판 |
|||||||||
|
케이블 연결 |
2뿌리 한 쌍/기판 4선형 |
2뿌리 한 쌍/기판 테스트 케이블 로드×2 |
2뿌리 한 쌍/기판 케이블 로드×1, 테스트 케이블×1 |
|||||||||
|
전기 특성 |
전기 누르기 더하다 실리다 부 |
로드 전압 |
전압 측정 거리1 |
0.10V~120.00V |
0.1V~250.0V |
1.0V~500.0V |
1.0V~1000.0V |
|||||
|
전압 측정 거리2 |
0.100V~12.000V |
-- |
-- |
-- |
||||||||
|
로드 설정 해상도 |
0.10V/0.001V |
0.1V |
||||||||||
|
기본 로드 정밀도 |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
||||||||||
|
대용량 출력 |
96mW/ch |
256mW/8ch |
300mW/ch |
|||||||||
|
그룹 로드 |
1그룹 (1ch / 1개그룹) |
2그룹 (8ch/1의그룹) |
1그룹 (8ch/1의그룹) |
|||||||||
|
로드 스레드 |
2측정 거리 |
1측정 거리 |
||||||||||
|
로드 채널 수 |
1CH |
8ch |
||||||||||
|
대규모 부하 용량 |
2.0μF/1ch |
0.47μF/8ch |
3300pF/1ch |
|||||||||
|
전기 누르기 명시 표시 그릇 |
모니터 범위 |
2측정 거리 |
1측정 거리 |
|||||||||
|
모니터 범위 |
전압 측정 거리1 |
0.00V~120.00V |
0.0V~250.0V |
0.0~500.0V |
0.0V~1000.0V |
|||||||
|
전압 측정 거리2 |
0.000V~12.000V |
-- |
-- |
-- |
||||||||
|
모니터 변명률 |
0.10V/0.001V |
0.1V |
||||||||||
|
기본 모니터 정밀도 |
±0.3%/FS |
±0.3%/FS + 0.5V/FS |
||||||||||
|
모니터 분할 단위 |
1CH |
1그룹 또는1CH |
1CH |
|||||||||
|
모니터 주기 |
40ms |
|||||||||||
|
모니터 채널 수 |
8ch |
16ch |
8ch |
|||||||||
|
전기 흐름 측정 시험 |
테스트 스레드 |
3측정 거리 |
2측정 거리 |
3측정 거리 |
||||||||
|
모니터 범위 |
전류 양정1 |
0.00μA~320.00μA |
||||||||||
|
전류 양정2 |
0.0000μA~3.2000μA |
|||||||||||
|
전류 양정3 |
0.00nA의~32.000nA |
-- |
0.000nA~32.000nA |
|||||||||
|
범위 설정 |
320.00μA·3.2000μA ·32.000nA·자동 |
320.00μA·3.2000μA·자동 |
320.00μA·3.2000μA·32.000nA·자동 |
|||||||||
|
작은 해상도 테스트 |
전류 양정1 |
10nA의 |
10nA의 |
10nA의 |
||||||||
|
전류 양정2 |
100pA의 |
100pA의 |
100pA의 |
|||||||||
|
전류 양정3 |
1pA |
1pA |
1pA |
|||||||||
|
기본 테스트 정밀도 |
±0.3%/FS |
|||||||||||
|
채널 수 |
8ch |
16ch |
8ch |
|||||||||
|
데이터 수록 주기 |
정기30년대(작음)/이온이 이동할 때40ms(작음) |
|||||||||||
|
이온 마이그레이션 테스트 속도 |
40ms |
|||||||||||
|
누설 체크 아웃 |
400μs/ch |
|||||||||||
|
테스트 주기 |
40ms |
|||||||||||
|
추가 기능 |
자체 진단 |
외부 표준 저항 진단 ※선택 구성 |
||||||||||
|
연쇄 |
상자 문이 열릴 때 자동 인터럽트 기능 테스트 ※선택 구성 |
|||||||||||
|
브레이크 체크 아웃 |
끝 브레이크 체크 아웃 기능 |
-- |
||||||||||
|
시험조 내온습도 수록 |
온도 및 습도 측정 기판 추가,3CS·키리스소프트웨어가 크면 수록할 수 있다4슬롯 데이터 ※선택 구성 |
|||||||||||
|
샘플 온도 수록 |
통과3CS SMU는각 채널에 수록 가능1개 점 ※선택 구성 |
|||||||||||
|
큰 시스템 구성 |
SIR13은 |
80ch(10기판) |
160ch(10기판) |
80ch(10기판) |
||||||||
|
SIR13mini는 |
24시간(3기판) |
48ch(3기판) |
24시간(3기판) |
|||||||||
|
통제부 |
시스템 제어 컴퓨터 |
윈도우 XP 프로SP2는적합윈도우 2000)벤티엄 500MHz이상 메모리256 메가바이트이상 |
||||||||||
|
테스트부 연결 |
GP-IB는또는이더넷 |
|||||||||||
|
기타 |
정전 대책 |
정전이 발생하기 전에 데이터를 저장하고 전원이 켜진 후에도 계속 수록할 수 있다 ※무정전 전원 공급 장치 필수 |
||||||||||
|
제어 장치 |
구조 유형 |
SIR13은 |
SMU 10은슬롯 폼 팩터 크기: W430 × H300 × D620※돌기 부분 제외 무게: 약30kg(SMU 10은매 장착 시) 소비 전류:5A는다음(100V사용 시) |
|||||||||
|
SIR13mini는 |
SMU 3는슬롯 폼 팩터 크기: W220 × H370 × D390※돌기 부분 제외 무게: 약20kg(SMU 3는매 장착 시) 소비 전류:2A는다음(100V사용 시) |
|||||||||||
|
내소음 능력 |
1μs펄스2KV 1개분 |
|||||||||||
|
절연 저항 |
DC500V 100MΩ이상 |
|||||||||||
|
전원 공급 장치 사용 |
AC85V는~264V 50/60Hz |
|||||||||||
|
사용 환경 |
온도+10℃~+40℃ 습도75%RH이하 (결로 없음) |
|||||||||||
|
환경 저장 |
온도-10℃~+ 60℃ |
|||||||||||
절연 열화 및 이온 이동 특성 평가 시스템 제품 이미지
