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동적 피드백 비율 레코드 이중 빔 자외선 가시 분광 광도계
UV2900 동적 피드백 비율 기록 듀얼 빔 자외선 가시 분광 광도계 시리즈 제품은 듀얼 빔 피드백 기록 측광 시스템을 채택하여 PC기가 제어하는 전자동 스캐닝형 고성능 자외선 가시 분광 광도계를 사용한다.새로운 광학 시스템과 회로 설계 및 스펙트럼 대역폭 조정 및 설
제품 상세 정보

UV2900동적 피드백 비율 레코드 이중 빔 자외선 가시 분광 광도계주요 특징

  • 제품군:2900(1nm 버전), 2900(8단 조정 가능), 2900(0.1-5.0nm 연속 조정 가능)
  • 지속적인 안정성:쌍광빔 동적 피드백 비율 기록 측광 시스템 및 회로는 기선의 안정성을 보장하고 기기의 장시간 안정을 확보한다.
  • 초저 잡산광: 매우 우수한 광학 시스템, 첨단 전자 시스템은 기기의 잡산광 ≤ 0.015% T를 보장하여 고농도 샘플 테스트 데이터를 더욱 정확하게 한다.
  • 등원 교체는 간단하고 편리하다: 수입 콘센트식 플랜지 디스크형 듀테륨 램프와 텅스텐 램프를 사용하여 등불을 교체할 때 광로 디버깅이 필요 없어 유지보수가 더욱 간편하다.
  • 전체 PC 조작: UV-Solution3.0 워크스테이션 소프트웨어를 갖추고 있어 조작이 편리하고 테스트 기능이 풍부하다.GMP 사양 요구 사항을 충족하는 소프트웨어를 선택할 수 있습니다.
  • 3D 스펙트럼의 측정:"동적 변화"가 있는 샘플 스캔 스펙트럼을 3D 스펙트럼의 제작 및 분석합니다.
  • 고성능 검출기:우수한 수입 제품의 광전 배율 증폭관은 기기의 높은 감도와 높은 안정성을 보장한다.

UV2900동적 피드백 비율 레코드 이중 빔 자외선 가시 분광 광도계주요 기능

  • 스펙트럼 스캔(파장 스캔): 유효한 파장 범위 내에서 0.1, 0.5, 1, 2, 5nm에 따라 스캔 간격을 설정하여 샘플의 흡광도 A, 투과율 또는 에너지를 스캔하고 스펙트럼 배율, 매끄러움, 사칙 연산, 좌표 조정, 피크/밸리 자동 검측, 1~4 단계 도수 스펙트럼, 3D 스펙트럼 등 스펙트럼 데이터를 처리하여 보고서를 편집할 수 있습니다.
  • 시간 스캔 (역학 테스트):특정 파장에서 샘플의 흡광도 A 또는 투과율 T를 시간 스캔하면 샘플링 시간 간격은 1.0, 2.0, 5.0, 30, 60초로 선택할 수 있으며 데이터 측정 개수 10000개를 더 저장할 수 있다.인쇄 가능 레코드는 표준 보고서이며, 사용자가 편집할 수 있는 Execl 파일로 데이터를 내보내고, bmp 그림 파일로 스펙트럼을 내보낼 수 있습니다.
  • 정량 측정:1단계 과영, 1단계 선형, 2단계 의합, 3단계 의합 표준 곡선 및 매개변수 표정 테스트를 진행할 수 있으며, 20개 스플라인 점의 표준 곡선을 더 만들 수 있으며, 단일 파장, 이중 파장 또는 3 파장 아래 측정을 선택할 수 있으며, 사용자가 편집할 수 있도록 데이터를 Execl 파일로 내보낼 수 있다.
  • 다중 파장 측정:여러 파장 조건에서 샘플 투과율 T, 흡광도 A를 테스트할 수 있으며, 최대 8개의 파장점을 설정할 수 있으며, 표준 보고서로 인쇄할 수 있고, 사용자가 편집할 수 있도록 데이터를 Execl 파일로 내보낼 수 있다.
  • DNA/단백질 분석:: 특정 파장에서 DNA 시료의 흡광도를 빠르게 측정하고 디옥시리보핵산/단백질의 농도 및 DNAratio를 자동으로 계산하며, 두 가지 표준 테스트 방법을 내장하고, 응용 프로그램을 확장할 수 있으며, 임의로 다른 파장과 인자를 설정하여 측정 및 계산할 수 있으며, 표준 보고서로 인쇄할 수 있고, 사용자가 편집할 수 있도록 데이터를 Execl 파일로 내보낼 수 있다.

기술 사양

2900 시리즈
1nm 버전 8단 조정 가능 0.1-5.0nm 연속 조정 가능
  • 광학 시스템: 이중 빔 동적 피드백 비율 기록 측광 시스템.
  • 스펙트럼 대역폭: 1nm/0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0, 3.0, 4.0, 5.0nm 조정 가능/0.1-5.0nm 연속 조정 가능.
  • 파장 범위: 190~900nm.
  • 파장 대허용오차: <±0.3nm.
  • 파장 중복성: ≤0.1nm.
  • 광도 범위: T:0~200.00% T, A:-4.000~4.000Abs, C:0~9999.
  • 투과비 큰 허용오차: ±0.3%T.
  • 투과비 중복성: ≤0.1%T.
  • 잡산광: ≤ 0.015%T (220nm, 360nm 지점).
  • 베이스라인 평면도: ± 0.001A.
  • 베이스라인 드리프트: ≤ 0.0004A/h (500nm 지점).
  • 노이즈: ±0.0004Abs
  • 검측기: 수입 광전 배율 증폭관.
  • 옵션 부품: 자동 6연지, 항온 비색 그릇대, 미량 비색 그릇대 등.

UV-Solution3.0

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